Monokrystalická solární destička typu M M6

Monokrystalická solární destička typu M M6
Představení produktu:
Monokrystalická křemíková solární destička M typu P o průměru 223 mm je o 12,21% větší než destička M2.
Odeslat dotaz
Chat teď
Popis
Technické parametry


M6 solar wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


Monokrystalická křemíková solární destička M typu P s délkou 166 mm a průměrem 223 mm je o 12,21% větší než destička M2. to znamená, že solární články vyrobené ze substrátu M6 budou mít o 12,21% vyšší výkon než ty ze substrátu M2.


1 Vlastnosti materiálu

Vlastnictví

Specifikace

Inspekční metoda

Metoda růstu

CZ


Krystalinita

Monokrystalické

Preferenční techniky leptáníASTM F47-88

Typ vodivosti

Typ P.

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

Bor, Gallium

-

Koncentrace kyslíku [Oi]

≦8E+17 na / cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Koncentrace uhlíku [Cs]

5E+16 na / cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Hustota leptané jámy (dislokační hustota)

500 cm-3

Preferenční techniky leptáníASTM F47-88

Orientace povrchu

& <100> ± 3 °

Rentgenová difrakční metoda (ASTM F26-1987)

Orientace pseudo čtvercových stran

& 010> ;,&001> ± 3 °

Rentgenová difrakční metoda (ASTM F26-1987)

2 Elektrické vlastnosti

Vlastnictví

Specifikace

Inspekční metoda

Odpor

0,5 - 1,5 Ωcm

Systém kontroly destiček

MCLT (životnost minoritního dopravce)

50 μs

Sinton BCT-400

(s úrovní vstřikování: 1E15 cm-3)

3Geometrie

Vlastnictví

Specifikace

Inspekční metoda

Geometrie

Celý čtverec


Délka strany oplatky

166 ± 0,25 mm

systém kontroly destiček

Průměr destičky

φ223 ± 0,25 mm

systém kontroly destiček

Úhel mezi sousedními stranami

90° ± 0.2°

systém kontroly destiček

Tloušťka

18020/10 µm;

17020/10 µm

systém kontroly destiček

TTV (celková změna tloušťky)

27 µm

systém kontroly destiček


166mmx166mm M6 solar wafer

4 Vlastnosti povrchu

Vlastnictví

Specifikace

Inspekční metoda

Metoda řezání

DW

--

Kvalita povrchu

po nařezání a vyčištění, žádné viditelné znečištění (olej nebo mastnota, otisky prstů, skvrny od mýdla, skvrny od kejdy, skvrny od epoxidu / lepidla nejsou povoleny)

systém kontroly destiček

Viděl značky / kroky

≤ 15µm

systém kontroly destiček

Luk

≤ 40 µm

systém kontroly destiček

Warp

≤ 40 µm

systém kontroly destiček

Čip

hloubka ≤0,3 mm a délka ≤ 0,5 mm max. 2 / ks; žádný V-čip

Systém kontroly pouhým okem nebo oplatkou

Mikrotrhliny / díry

Nepovoleno

systém kontroly destiček




 

Populární Tagy: p typ M6 monokrystalická solární destička, Čína, dodavatelé, výrobci, továrna, vyrobené v Číně

Odeslat dotaz
Jak vyřešit problémy s kvalitou po prodeji?
Vyfoťte problémy a pošlete nám je. Po potvrzení problémů my
během několika dní pro vás připraví uspokojivé řešení.
kontaktujte nás