Tok výroby monokrystalických destiček sestává z postupů řezání, čištění a třídění. V současné době je více než 80% celosvětové výrobní kapacity krystalů Cz-Si pro PV vyhrazeno pro p type.
1 Vlastnosti materiálu
Vlastnictví | Specifikace | Inspekční metoda |
Metoda růstu | CZ | |
Krystalinita | Monokrystalické | Preferenční techniky leptání（ASTM F47-88） |
Typ vodivosti | Typ P. | Napson EC-80TPN P/N |
Dopant | Bor, Gallium | - |
Koncentrace kyslíku [Oi] | ≦9E+17 na / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Koncentrace uhlíku [Cs] | ≦5E+16 na / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Hustota leptané jámy (dislokační hustota) | ≦500 cm-3 | Preferenční techniky leptání（ASTM F47-88） |
Orientace povrchu | & <100> ± 3 ° | Rentgenová difrakční metoda (ASTM F26-1987) |
Orientace pseudo čtvercových stran | & 010> ;,&001> ± 3 ° | Rentgenová difrakční metoda (ASTM F26-1987) |
2 Elektrické vlastnosti
Vlastnictví | Specifikace | Inspekční metoda |
Odpor | 1-3 Ωcm (po žíhání) | Systém kontroly destiček |
MCLT (životnost minoritního dopravce) | ≧20 μs | Sinton QSSPC |
3 Geometrie
Vlastnictví | Specifikace | Inspekční metoda |
Geometrie | Pseudo čtverec | |
Tvar zkosené hrany | Kolo | |
Velikost oplatky (Délka strany * délka strany * průměr | M0: 156 * 156 * ϕ210 mm M1: 156,75 * 156,75 * ϕ205 mm M2: 156,75 * 156,75 * ϕ210 mm | Systém kontroly destiček |
Úhel mezi sousedními stranami | 90±3° | Systém kontroly destiček |
Populární Tagy: P typ 156mm monokrystalická solární destička, Čína, dodavatelé, výrobci, továrna, vyrobené v Číně
