V solárním FV průmyslu je přechod technologie oplatky posunem od pseudo čtverce156,75 x 156,75 mm M2 do větších velikostí destiček s plným čtvercem 158,75 x 158,75 mm, a to zahrnuje mono-Si oplatky typu p a n.
Nejmodernější oplatky Full Square Mono Wafers rozšířením pravoúhlé míry maximalizovaly expozici světla na stejnou úroveň multi oplatky. Oplatky jsou vždy zcela čtvercové, aby optimálně zapadaly do FV modulu.
1 Vlastnosti materiálu
Vlastnictví | Specifikace | Inspekční metoda |
Metoda růstu | CZ | |
Krystalinita | Monokrystalické | Preferenční techniky leptání（ASTM F47-88） |
Typ vodivosti | N-typ | Napson EC-80TPN |
Dopant | Fosfor | - |
Koncentrace kyslíku [Oi] | ≦8E+17 na / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Koncentrace uhlíku [Cs] | ≦5E+16 na / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Hustota leptané jámy (dislokační hustota) | ≦500 cm-3 | Preferenční techniky leptání（ASTM F47-88） |
Orientace povrchu | & <100> ± 3 ° | Rentgenová difrakční metoda (ASTM F26-1987) |
Orientace pseudo čtvercových stran | & 010> ;,&001> ± 3 ° | Rentgenová difrakční metoda (ASTM F26-1987) |
2 Elektrické vlastnosti
Vlastnictví | Specifikace | Inspekční metoda |
Odpor | 0,3-2,1 Ω.cm 1,0 - 7,0 Ω.cm | Systém kontroly destiček |
MCLT (životnost minoritního dopravce) | ≧ 1000 μs (odpor 0,3-2,1 Ω.cm) | Sinton přechodný |
3 Geometrie
Vlastnictví | Specifikace | Inspekční metoda |
Geometrie | Celý čtverec | |
Délka strany oplatky | 158,75 ± 0,25 mm | systém kontroly destiček |
Průměr destičky | φ223 ± 0,25 mm | systém kontroly destiček |
Úhel mezi sousedními stranami | 90° ± 0.2° | systém kontroly destiček |
Tloušťka | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | systém kontroly destiček |
TTV (celková změna tloušťky) | ≤ 27 µm | systém kontroly destiček |
4 Vlastnosti povrchu
Vlastnictví | Specifikace | Inspekční metoda |
Metoda řezání | DW | -- |
Kvalita povrchu | po nařezání a vyčištění, žádné viditelné znečištění (olej nebo mastnota, otisky prstů, skvrny od mýdla, skvrny od kejdy, skvrny od epoxidu / lepidla nejsou povoleny) | systém kontroly destiček |
Viděl značky / kroky | ≤ 15µm | systém kontroly destiček |
Luk | ≤ 40 µm | systém kontroly destiček |
Warp | ≤ 40 µm | systém kontroly destiček |
Čip | hloubka ≤0,3 mm a délka ≤ 0,5 mm max. 2 / ks; žádný V-čip | Systém kontroly pouhým okem nebo oplatkou |
Mikrotrhliny / díry | Nepovoleno | systém kontroly destiček |
Populární Tagy: Plný čtvercový monokrystalický solární plátek typu n, Čína, dodavatelé, výrobci, továrna, vyrobené v Číně
