Monokrystalické destiči typu M4 P je 161,7 mm x 161,7 mm.
1 Vlastnosti materiálu
vlastnost | specifikace | Metoda kontroly |
Metoda růstu | Cz | |
Krystaličnost | Monokrystalický
| Preferenční techniky leptu（ASTM F47-88） |
Typ vodivosti | Typ P | Napson EC-80TPN P/N |
Dopant
| Bór, Gallium
| - |
Koncentrace kyslíku[Oi] | ≦8E+17 při/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Koncentrace uhlíku[Cs] | ≦5E+16 při/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Hustota etchové jámy (dislokační hustota) | ≦500 cm-3 | Preferenční techniky leptu（ASTM F47-88） |
Orientace povrchu | <100>±3° | Rentgenová difrakce (ASTM F26-1987) |
Orientace pseudo čtvercových stran | <010>,<001>±3° | Rentgenová difrakce (ASTM F26-1987) |
2 Elektrické vlastnosti
vlastnost | specifikace | Metoda kontroly |
odpor | 0,5-1,5 Ωcm | Kontrolní systém desticí |
MCLT (životnost menšinového nosiče) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (s úrovní vstřikování: 1E15 cm-3) |
3 geometrie
vlastnost | specifikace | Metoda kontroly |
geometrie | Kvazi náměstí | |
Délka boku destiky | 161,7±0,25 mm | kontrolní systém destih |
Průměr destih | φ221±0,25 mm | kontrolní systém destih |
Úhel mezi přilehlými stranami | 90° ± 0,2° | kontrolní systém destih |
tloušťka | 180﹢20/﹣10 μm; 170﹢20/﹣10 μm | kontrolní systém destih |
TTV (odchylka celkové tloušťky) | ≤27 μm | kontrolní systém destih |
4 Vlastnosti povrchu
vlastnost | specifikace | Metoda kontroly |
Metoda řezání | Dw | -- |
Kvalita povrchu | při řezu a čištění není povolena žádná viditelná kontaminace (olej nebo mastnota, otisky prstů, mýdlové skvrny, skvrny od kalu, epoxidové/lepicí skvrny) | kontrolní systém destih |
Pilové značky / schody | ≤ 15 μm | kontrolní systém destih |
luk | ≤ 40 μm | kontrolní systém destih |
osnova | ≤ 40 μm | kontrolní systém destih |
čip | hloubka ≤0,3 mm a délka ≤ 0,5 mm Max 2/ks; žádný V-čip | Kontrolní systém nahých očí nebo oplatek |
Mikro praskliny / otvory | Není povoleno | kontrolní systém destih |
Populární Tagy: p typ 161.7mm monokrystalické solární destě, Čína, dodavatelé, výrobci, továrna, vyrobeno v Číně
