Monokrystalický křemíkový oplatk typu N-typu N-typu G1 má design plného čtverce 158,75 × 158,75 mm, maximalizující expozici světla a účinnost modulu. Vyrobeno pomocí metody CZ s dopingem fosforu, nabízí vynikající kvalitu materiálu, nízkou hustotu dislokace (menší nebo roven 500 cm⁻²) a<100>Křišťálová orientace. S vodivostí typu N, rozsahu odporu 0,5–7 Ω · cm a životnost nosiče až do větší nebo rovné 1000 µs, je dobře vdiné pro vysoce účinné buněčné technologie, jako jsou Topcon a HJT. Jeho plně čtvercový tvar a těsné geometrické tolerance zajišťují optimální integraci a výkon modulu.
1. vlastnosti materiálu
|
Vlastnictví |
Specifikace |
Metoda inspekce |
|
Metoda růstu |
Cz |
|
|
Krystalinita |
Monokrystalický |
Preferenční techniky leptání(ASTM F47-88) |
|
Typ vodivosti |
Typ n |
NAPSON EC-80TPN |
|
Dopant |
Fosfor |
- |
|
Koncentrace kyslíku [oi] |
Menší nebo rovné8E +17 AT/CM3 |
FTIR (ASTM F121-83) |
|
Koncentrace uhlíku [CS] |
Menší nebo rovné5e +16 AT/CM3 |
FTIR (ASTM F123-91) |
|
Hustota leptání jámy (hustota dislokace) |
Menší nebo rovné500 cm-2 |
Preferenční techniky leptání(ASTM F47-88) |
|
Povrchová orientace |
<100>± 3 stupeň |
Rentgenová difrakční metoda (ASTM F26-1987) |
|
Orientace pseudo čtvercových stran |
<010>,<001>± 3 stupeň |
Rentgenová difrakční metoda (ASTM F26-1987) |
2. Elektrické vlastnosti
|
Vlastnictví |
Specifikace |
Metoda inspekce |
|
Odpor |
1,0-7,0 Ω.cm
|
Systém kontroly oplatky |
|
MCLT (Menšinový dopravce Lifetime) |
Větší nebo rovna 1000 µs (odpor ＞ 1,0ohm.cm)
Větší nebo rovna 500 µs (odpor ＜ 1,0ohm.cm)
|
Sinton BCT-400 Qsspc/přechodné
(s úrovní injekce: 1e15 cm -3)
|
3.Geometrie
|
Vlastnictví |
Specifikace |
Metoda inspekce |
|
Geometrie |
Pseudo Square |
|
|
Tvar zkosení
|
kolo | |
|
Délka strany oplatky |
182 ± 0,25 mm
|
Systém kontroly oplatky |
|
Průměr oplatky |
φ247 ± 0,25 mm |
Systém kontroly oplatky |
|
Úhel mezi sousedními stranami |
90 stupňů ± 0,2 stupňů |
Systém kontroly oplatky |
|
Tloušťka |
180﹢ 20/﹣10 µm
175﹢ 20/﹣10 µm
170﹢ 20/﹣10 µm
160﹢ 20/﹣10 µm
150﹢ 20/﹣10 µm
|
Systém kontroly oplatky |
|
TTV (celková změna tloušťky) |
Menší nebo rovné 27 µm |
Systém kontroly oplatky |
4.Vlastnosti povrchu
|
Vlastnictví |
Specifikace |
Metoda inspekce |
|
Metoda řezání |
DW |
-- |
|
Kvalita povrchu |
Jak je řezané a vyčištěné, žádná viditelná kontaminace (olej nebo mastnota, otisky prstů, skvrny mýdla, skvrny z kaše, epoxidové/lepidlové skvrny nejsou povoleny) |
Systém kontroly oplatky |
|
SEKLA ZNAČKY / STESTY |
Méně nebo rovné 15 um |
Systém kontroly oplatky |
|
Luk |
Méně nebo rovné 40 µm |
Systém kontroly oplatky |
|
Warp |
Méně nebo rovné 40 µm |
Systém kontroly oplatky |
|
Čip |
hloubka menší nebo rovná 0,3 mm a délce menší nebo rovná 0,5 mm max 2/ks; žádný v-čip |
Pouhých očí nebo inspekčního systému oplatky |
|
Mikro trhliny / otvory |
Není povoleno |
Systém kontroly oplatky |
Populární Tagy: N-typ G1 monokrystalický křemík Specifikace destičky, Čína, dodavatelé, výrobci, továrna, vyrobené v Číně
